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平出 哲也
no journal, ,
ポジトロニウム(Ps)は負の仕事関数によって液体中でバブルを形成し、三重項であるオルソ-Psの消滅率はこのバブルの大きさに依存する。イオン液体中のみで、1ナノ秒程度までに陽電子消滅率の振動が観測され、これはバブル形成時の振動であると考えられる。その振動には温度依存性があり、融点以上の温度で急激に振動周波数が小さくなることを見出した。また、多くの液体で、表面張力と良い相関が見られる数ナノ秒以降における一定の消滅率が、イオン液体中では表面張力との相関を用いて予測される消滅率よりも小さくなること、消滅率が高温で小さくならないことが明らかとなった。これらは、イオン液体の複雑な液体構造を反映していると考えられる。
深谷 有喜
no journal, ,
現在、ナノテクノロジーの急速な進歩に伴い、低次元性由来の特異な物性を発現する物質表面やその表面上に構築したナノ構造が注目されている。これらの表面ナノ構造の原子配置を決定するためには、プローブに極めて高い表面敏感性が要求される。本研究で用いる全反射高速陽電子回折(TRHEPD)は、電子の反粒子である陽電子をプローブとした構造解析手法である。陽電子は電子とは逆のプラスの電荷をもつため、陽電子に対する結晶ポテンシャルは常に障壁として働く。そのため、低視射角入射の陽電子ビームは物質表面で全反射を起こす。全反射した陽電子は、主に最表面層の情報のみを含む。全反射の臨界角を少し超えた入射条件では、最表面層直下の情報も得ることができる。したがって、TRHEPD法では、バルクの影響なしに最表面とその直下の構造を精度よく決定できる。講演では、本手法の詳細と、金属基板上に作製したグラフェンとシリセンの構造決定について報告する。
前川 雅樹; Li, H.; 河裾 厚男
no journal, ,
For the study of surface magnetic phenomena, we have developed spin-polarized slow positron beams. The spin polarization at the first surface layer was determined through 3-
annihilation of positronium which is emitted into vacuum. The energy distribution of the emitted positronium is affected by the electron density of state (DOS). By measuring the energy distribution of positronium, one can obtain spin-polarized DOS at the first surface layer. For this purpose, we are constructing a SP-positronium time-of-flight (TOF) apparatus. Spin-polarized positron beam generated from a Ge-68 source (600 MBq), which is made by a high-energy proton irradiation to the metal-Ga target, is transported to the sample position by the electrostatic lenses avoiding depolarization. The TOF spectrum is obtained by measuring time difference of start and stop signals. The start signal is triggered by secondary electrons detected by a through-hole microchannel plate when the positrons pass through a thin carbon film width thickness of 50 nm. The stop signal is annihilation ray of positronium detected by a NaI detector.
Jiang, L.*; O'Rourke, B. E.*; 原田 祥久*; 高津 周平*; 伊藤 賢志*; 大久保 雅隆*; 平出 哲也; 上殿 明良*; 鈴木 良一*; 高井 健一*; et al.
no journal, ,
放電加工により導入される欠陥の深さ依存性をSUS316Lについて、電子線マイクロアナライザー(EPMA),陽電子消滅寿命測定(PALS), X線構造解析(XRD)を用いて調べた。EPMAの結果から10ミクロン以上の深さに大きな影響がみられた。この層は鋳直された部分であると考えられる。PALSとXRDの結果からは、欠陥は50ミクロン程度の深さまで存在していると考えられた。この層は熱が影響している部分であると考えられ、転位と空孔クラスターが存在している。陽電子消滅寿命測定などの手法で観察する場合、放電加工後の試料については100ミクロン程度化学処理により取り除くべきである。